Du kan vara säker på att köpa E4991B impedansanalysatorer från vår fabrik. E4991B impedansanalysator med ett frekvensområde på 1 MHz till 3 GHz, 0,65 % grundnoggrannhet över ett brett impedansområde, materialmätningsalternativ för temperaturkarakteristikanalys och direktavläsningsfunktion för permittivitet och permeabilitet.
Du kan vara säker på att köpa E4991B impedansanalysatorer från vår fabrik. E4991B Impedansanalysator 1 MHz - 3 GHz
Keysight E4991B Impedance Analyzer är den perfekta lösningen för att karakterisera och utvärdera elektroniska komponenter, halvledarenheter och material.
Tre uppgraderbara frekvensalternativ: 1 MHz till 500 MHz/1 GHz/3 GHz
Grundläggande noggrannhet ±0,65 % och 120 mΩ till 52 kΩ impedansområde (10 % mätnoggrannhetsområde)
Mätparametrar: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (1. Alternativ 001 krävs)
Inbyggd DC-förspänning (Alternativ 001): 0 V till ±40 V, 0 A till ±100 mA
4-kanals & 4-trace på 10,4-tums LCD-färgskärm med pekskärm
Dataanalysfunktion: Ekvivalent kretsanalys, gränslinjetest
Mätning av dielektriskt/magnetiskt material (alternativ 002): |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ)
Mätning av temperaturegenskaper (alternativ 007) och tillförlitlig mätning på wafer (alternativ 010)
Alternativ för materialmätning ger möjlighet att analysera temperaturegenskaper (alternativ 007) och direkt avläsning av permittivitet och permeabilitet (alternativ 002).
Anslutningssats för probstation (alternativ 010) erbjuder en noggrann lösning för impedansmätning på wafer eller mikrokomponent upp till 3 GHz.
E4991B stöder ett brett utbud av testtillbehör som är utformade för att göra mätningar enkla och tillförlitliga.
Oavsett om du är i FoU, QA eller inspektion, är E4991B en idealisk lösning för att karakterisera och utvärdera elektroniska komponenter, halvledarenheter och material.
För materialmätning arbetar E4991B med N1500A-005 materialmätningssvit och ger enkla mätningar (upp till 1 GHz), från installation av fixturer till rapportgenerering.
| Ytterligare information: | RF IV, lämplig för noggrann impedansutvärdering Ekvivalent kretsanalys (7 modeller) Materialmät. (opt. 002) Temperaturkarakteristiktest (opt. 007) Impedansmätning på wafer. med sondstation (opt. 010) 4 kanaler, 4 spår |
| Grundläggande noggrannhet: | 0,65 % |
| DC Bias: | 0 V till ±40 V, 0 A till ±100 mA (alternativ 001) |
| Frekvens: | 1 MHz till 500 MHz/1 GHz/3 GHz |
| Maximal frekvens: | 3 GHz |
| Mått: | RF-IV metod |
| Mätområde (noggrannhet < 10%): | 120 mΩ till 52 kΩ |
| Andra funktioner: | Ekvivalent kretsanalys, gränsledningstest etc. Dielektriskt/magnetiskt materialmätning (alternativ 002), Temperaturkarakteristikmätning (alternativ 007), |
| Specialfunktioner: | n/a |
| Mål DUT: | Enhet för allmänna ändamål Material |
| Typ: | Impedansanalysator |
